射频导纳物位计   

      射频导纳式物位控制器是利用高频技术，由电子线路产生

一个小功率射频信号于探头上，探头作为敏感元件，将来自物

位介电常数引起的信号变化反馈给电子线路于这些变化包括电

容量和电导量的变化，因而电子线路处理的是容抗和阻抗的综

合变化信号,采用相位检测技术将这种变化检测出来，进行处理

后继电器的输出。它是在原电容测量的基础上改进为射频导纳

测量技术，代表了当今物位测量的新水平。

 主要技术参数

一、整体型和分体型物位控制器

灵 敏 度：0.5-1000pf       延长时间：0-30s

介质压力：0-70kg/mз(根据不同温度确定)

介质温度：-40℃至+260℃(根据不同压力确定)

输出继电器：DPDT 10A@115VAC 或 5A@ 220VAC

分离型射频导纳物位控制器带自检电路

二、整体型和分体型物位变送器

测量范围：30cm-60M

输出信号：4-20mA,或带继电器，或带HART协议

介质压力：0-70kg/mз(根据不同温度确定)

介质温度：-40℃至+260℃(根据不同压力确定)

精 度：+0.5%

可提供防爆：四线制或二线制变送器以及法兰型安装